近日，英飛凌的磁性感測器門類再添新兵，第三代3D霍爾感測器TLE493D-x3系列在經歷兩代產品的迭代後應運而生。相較於前一代產品，主要有以下變化：

• 供電範圍擴展到5v並增加±50mT的量程範圍，從而可覆蓋更多應用場景；
• 精度更高，在靈敏度溫漂和零點溫漂以及各軸匹配度漂移方面性能具有提升；
• 系列中所有型號均具備睡眠喚醒功能；
• 明確符合功能安全ASIL-B等級要求，方便客戶建構ASIL-B以上等級的系統；
• 增加SPI介面的型號TLE493D-P3I8，該型號工作溫度可達150℃。

該系列產品的型號如下：

兩種測量模式：

• 低功耗模式：晶片內部定時觸發測量,可配置為4種定時取樣頻率16、31、125、1000Hz
• 主控模式：外部MCU對晶片測量進行觸發,最高取樣頻率可達7kHz
  
  

兩種模式均可配置為以下三種採樣值的組合：

3軸磁場+溫度

X軸磁場+Y軸磁場

X軸或Z軸磁場+溫度

三種量程：

量程範圍（mT）

靈敏度典型值(LSB14/mT)

長量程：± 16029.5

短量程：± 10059

超短量程：± 50118

睡眠與喚醒功能：

睡眠功能指的是晶片被設定為低功耗模式時，如果晶片感應的磁場低於所設定閾值，則晶片處於休眠狀態，以所設定頻率定時內部進行採樣並不再回應來自MCU的通訊指令。

喚醒功能指的是設定磁場閾值並使能該喚醒功能後，一旦作用於晶片的磁場超過閾值，INTN管腳會輸出低電平觸發脈衝，可用於喚醒SBC或MCU。 X,Y,Z任意一個軸的閾值被超過就會觸發出脈衝。如果各軸的閾值保持在復位時的初始值沒有進行修改，則表示該軸的睡眠喚醒功能沒有使能；如果所有軸的的閾值均保持復位初始值，則晶片會一直保持在喚醒狀態，持續向外發出脈衝。

檢驗功能

除了支援上述的三種採樣值組合外，晶片還提供三種自我檢測功能滿足使用者的診斷要求：

• 各軸霍爾偏壓檢測及供電電源檢測。這項功能主要是檢驗施加在hall盤上的偏壓是否在規程內，資料手冊中不但規定了初始值的合規範圍，同時規定了全生命週期的漂移範圍。

• 修調功能及內部電源偵測。這項功能主要是檢驗hall和ADC的零點的旋轉修調功能和片內穩壓電路是否仍正常運作。同樣地，資料手冊同時規定了其初始值和漂移值的範圍。

• SAT檢測。以上兩種自我檢測功能主要著重於晶片內模擬電路的自檢，而SAT檢測主要是對片內數位電路的測試，透過設定相關控制位，檢驗晶片的輸出值是否與參考值相同。

溫度補償演算法

資料手冊提供了三階溫度補償演算法，使用者可以根據如下的公式通過獲得的Bx,By,Bz及溫度初始值計算來補償值，從而進一步消除溫漂對精度的影響。